扫描电子显微镜 (SEM)
SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，最优空间分辨率~1nm，结合能量色散X射线谱仪（EDS）的能谱分析功能，可以同时实现形貌观察+元素分析。
应用行业：
材料科学（半导体、高分子、纳米器件等材料的微观结构分析）、生命科学（细胞形态分析）、质量控制（产品质量鉴定与生产工艺控制）等。
测试服务
• SEM-01表面高分辨形貌分析
• SEM-02截面高分辨形貌分析
• SEM-03微区成分分析
测试需求
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电池材料工艺开发 |
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电池失效解决方案 |
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清洁能源材料开发 |
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新器件及材料开发 |
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诊断芯片开发 |
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可穿戴设备开发 |
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扫描电子显微镜 (SEM)
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