透射电子显微镜 （TEM）

TEM主要用于对样品中小于200nm的微区结构进行形貌观察，场发射高分辨TEM空间分辨率最高可达~0.1nm，配合其他附件，还可以实现物相分析、确定晶体结构、材料缺陷评估以及元素分析。

应用行业：

材料科学（半导体、高分子、纳米器件等材料的微观结构分析）、生物科学（细胞形态分析、生化物质定位等）、医疗制药等领域。其中在无机材料科学方面，主要借助TEM研究微观结构、纳米尺寸、力学加载下的微观动态、生长机理、缺陷、成分均匀性等。

测试服务：

•  TEM-01表面高分辨形貌分析

•  TEM-02截面高分辨形貌分析

•  TEM-03微区成分分析