飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
测试内容：TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息，其特点在二次离子来自表面1nm以内的原子层分子层，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，检测限高达ppm级别。
应用行业：
物理，化学，微电子，生物，制药等研究方向。
测试服务：
• TOF-01表面分析
• TOF-02表面成像（Mapping）
• TOF-02深度分析
测试需求
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电池材料工艺开发 |
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电池失效解决方案 |
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清洁能源材料开发 |
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新器件及材料开发 |
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诊断芯片开发 |
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可穿戴设备开发 |
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飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
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